PIE-650 は、データレート最大850MHzの高速スキャンカメラに対応し、連続して走行するシート状(WEB)のフィルム、金属箔、鋼板、紙、不織布などやガラス、積層板、樹脂、食品などの欠陥検出（シート検査）に対応するシート表面検査装置です。高速かつ、高精細な欠陥検出で高い生産効率を実現、維持します。 また、検査ニーズに応じたシステム構成で小規模システムから大規模システムまで柔軟に対応が可能です。

最大データレート850MHz高速ラインセンサカメラ対応

• 目的に応じたカメラが選択可能
  データレート最大850MHz、画素数は、2000pixel～16000pixelラインセンサに対応します。
• 標準43台までのシステム構成に対応

優れた操作性

欠陥マップ情報

• リアルタイム表示
  欠陥の分布や欠陥画像をリアルタイムで表示可能です。
• マップと画像が連動
  マップ上の欠陥を選択すると画像が連動して表示されます。

画像一覧表示

• 欠陥レベルを一覧表示
  設定された欠陥レベルの一覧表示を行います。検査中でも検査結果の閲覧、シミュレーションが可能です。

統計情報表示

• 統計をグラフ表示
  検査結果の統計情報を数値で表示することができます。

優れた操作性

HIGH RESOLUTION STAGE 高分解能ステージ

• 高分解能カメラで高精度な欠陥検出
  データレート最大850MHzの高速ラインセンサカメラによる高分解能欠陥検出が行えます。
• 高速生産ラインにも対応
  高速ラインセンサ対応により、より高速な生産ラインにも対応できます。

PINHOLL STAGE ピンホール検査

• ピンホール検出+サイズ判定
  ピンホールの検出に加え、サイズ判定も可能です。

Special STAGE 特殊ステージ

• デュアルラインセンサカメラ対応
  1台のカメラで2ステージの検査が可能です。

欠陥検出例

• 新開発のアルゴリズムでさまざまな欠陥検出に対応
  異物、ムラ、スジなど欠陥の他、地合の強い対象物の薄汚れも検出します。

欠陥検出例

• シミュレーション画面
  複数のアルゴリズムを組合せ、しきい値や検出サイズの設定が可能です。
  また欠陥名称の設定ツールとして利用できます。

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